Dipl.-Ing. Arno Bergmann - 10.2010

Eine Verbesserung des Ortsfrequenzfilterverfahrens zur kamerabasierten Messung der translatorischen Geschwindigkeit bewegter Objekte

1. Prüfer: Göckler, Heinz
2. Prüfer: Schmitz, Georg

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Dipl.-Ing. Timo Gerkmann - 09.2010

Statistische Analyse cepstraler Koeffizienten und Anwendungen in der Sprachsignalverbesserung

1. Prüfer: Martin, Rainer
2. Prüfer: Häb-Umbach, Reinhold

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Dipl.-Ing. Christoph Kasseck - 08.2010

Frequenzbasierte optische Kohärenztomographie: Von der Strukturdarstellung zur spektroskopischen Analyse

1. Prüfer: Hofmann , Martin R.
2. Prüfer: Schmitz, Georg

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Dipl.-Ing. Matthias Wiemann - 08.2010

Ballistische Gleichrichtung durch heiße Elektronen in Wellenleiterkreuzen

1. Prüfer: Kunze, Ulrich
2. Prüfer: Awakowicz, Peter

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Dipl.-Phys. Matthias Kratzer - 08.2010

Simulation von Plasmaprozessen in der Mikroelektronik

1. Prüfer: Brinkmann, Ralf Peter
2. Prüfer: Awakowicz, Peter

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Dipl.-Ing. Christoph Schmits - 07.2010

Empfängerarchitekturen für den Mobilfunk mit aktiver integrierter Störsignalkompensation

1. Prüfer: Hausner, Josef
2. Prüfer: Musch, Thomas

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Dipl.-Ing. Dirk Mauler - 07.2010

Optimierung der einkanaligen Geräuschreduktion für die Anwendung in Hörhilfen

1. Prüfer: Martin, Rainer
2. Prüfer: Göckler, Heinz

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Dipl.-Ing. Ngoc Tuyen Le - 07.2010

Verstärkung modengekoppelter Diodenlaser im externen Resonator mit Dispersionskompensation

1. Prüfer: Hofmann , Martin R.

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M.Sc. Gang Qiao - 07.2010

Ballistischer Transport und thermoelektrische Effekte in asymmetrischen Si/SiGe-Nanokreuzen

1. Prüfer: Kunze, Ulrich
2. Prüfer: Awakowicz, Peter

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Dipl.-Phys. Peter Meßerer - 07.2010

Untersuchung und Entwicklung von Plasmaoberflächenprozessen: Ätzen von Halbleitern und Sterilisation von Polymeren

1. Prüfer: Awakowicz, Peter
2. Prüfer: Brinkmann, Ralf Peter

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