Dipl.-Ing. Christian Borß - 01.2011

Ein verbessertes parametrisches Modell zum Entwurf von virtueller Akustik und seine Anwendungen

1. Prüfer: Martin, Rainer
2. Prüfer: Vorländer, Michael

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Dipl.-Ing. Michael Westermeier - 01.2011

Untersuchung des Emitter-Effektes in HID-Lampen durch Absorptions- und Emissions-Spektroskopie

1. Prüfer: Awakowicz, Peter
2. Prüfer: Mentel, Jürgen

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Dipl.-Ing. Sebastian Hessel - 01.2011

Hardware-Beschleuniger für den Protokoll-Stapel mobiler LTE-Empfänger: Entwurf und Analyse von Schaltungsarchitekturen

1. Prüfer: Hausner, Josef
2. Prüfer: Bilgic, Attila

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Dipl.-Ing. Philipp Mertmann - 12.2010

Numerische Simulation technischer Plasmen: Serielle und parallele Programmiertechniken

1. Prüfer: Awakowicz, Peter
2. Prüfer: Mussenbrock, Thomas

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Dipl.-Ing. Bianca Will - 12.2010

Permittivitätsmessungen zur ortsaufgelösten Charakterisierung von Wasser-Feststoff-Gemischen auf der Basis kurzer elektromagnetischer Impulse

1. Prüfer: Schiek, Burkhard
2. Prüfer: Musch, Thomas

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Dipl.-Inform. Jörg Helbach - 11.2010

Eingrenzung des Secure Platform Problems bei Internetwahlsystemen mit Hilfe von Code Voting

1. Prüfer: Schwenk, Jörg
2. Prüfer: Grimm, Rüdiger

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Dipl.-Ing. Arno Bergmann - 10.2010

Eine Verbesserung des Ortsfrequenzfilterverfahrens zur kamerabasierten Messung der translatorischen Geschwindigkeit bewegter Objekte

1. Prüfer: Göckler, Heinz
2. Prüfer: Schmitz, Georg

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Dipl.-Ing. Timo Gerkmann - 09.2010

Statistische Analyse cepstraler Koeffizienten und Anwendungen in der Sprachsignalverbesserung

1. Prüfer: Martin, Rainer
2. Prüfer: Häb-Umbach, Reinhold

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Dipl.-Ing. Christoph Kasseck - 08.2010

Frequenzbasierte optische Kohärenztomographie: Von der Strukturdarstellung zur spektroskopischen Analyse

1. Prüfer: Hofmann , Martin R.
2. Prüfer: Schmitz, Georg

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Dipl.-Ing. Matthias Wiemann - 08.2010

Ballistische Gleichrichtung durch heiße Elektronen in Wellenleiterkreuzen

1. Prüfer: Kunze, Ulrich
2. Prüfer: Awakowicz, Peter

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Dipl.-Phys. Matthias Kratzer - 08.2010

Simulation von Plasmaprozessen in der Mikroelektronik

1. Prüfer: Brinkmann, Ralf Peter
2. Prüfer: Awakowicz, Peter

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Dipl.-Ing. Christoph Schmits - 07.2010

Empfängerarchitekturen für den Mobilfunk mit aktiver integrierter Störsignalkompensation

1. Prüfer: Hausner, Josef
2. Prüfer: Musch, Thomas

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Dipl.-Ing. Dirk Mauler - 07.2010

Optimierung der einkanaligen Geräuschreduktion für die Anwendung in Hörhilfen

1. Prüfer: Martin, Rainer
2. Prüfer: Göckler, Heinz

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Dipl.-Ing. Ngoc Tuyen Le - 07.2010

Verstärkung modengekoppelter Diodenlaser im externen Resonator mit Dispersionskompensation

1. Prüfer: Hofmann , Martin R.

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M.Sc. Gang Qiao - 07.2010

Ballistischer Transport und thermoelektrische Effekte in asymmetrischen Si/SiGe-Nanokreuzen

1. Prüfer: Kunze, Ulrich
2. Prüfer: Awakowicz, Peter

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Dipl.-Phys. Peter Meßerer - 07.2010

Untersuchung und Entwicklung von Plasmaoberflächenprozessen: Ätzen von Halbleitern und Sterilisation von Polymeren

1. Prüfer: Awakowicz, Peter
2. Prüfer: Brinkmann, Ralf Peter

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Dipl.-Phys. Roland Schwefel - 07.2010

Stationäre und gepulste induktiv gekoppelte Plasmen: Diagnostik und Deposition von Diamantschichten

1. Prüfer: Awakowicz, Peter
2. Prüfer: Brinkmann, Ralf Peter

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Dipl.-Inform. Michael Prilla - 06.2010

Wissensmanagement-Unterstützung für die Entwicklung und Nutzung von Prozessmodellen als wissensvermittelnde Artefakte

1. Prüfer: Herrmann, Thomas Andreas
2. Prüfer: Balzert, Helmut

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Dipl.-Ing. Thomas Kurbiel - 06.2010

Optimierung und Analyse überabtastender komplex-modulierter SBC-Filterbänke mit individuell verstärkten Teilbandsignalen

1. Prüfer: Göckler, Heinz
2. Prüfer: Martin, Rainer

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Dipl.-Ing. Juan Jesus Velasco-Velez - 06.2010

Modellierung von elektrisch leitenden Nanofilm Gassensoren

1. Prüfer: Kunze, Ulrich
2. Prüfer: Doll, Theodor

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